WITec alpha 300S 掃描近場光學顯微鏡
- 產品介紹：WITec alpha 300S 掃描近場光學顯微鏡采用*設備的中空懸臂式近場探針實現超越衍射極限的光學分辨率。alpha 300S系統也具備*的兼容性和擴展性，可與共聚焦光學/拉面顯微鏡及原子力顯微鏡集成在同一臺儀器上，僅需旋轉物鏡轉輪即可實現不同模式切換。
- 產品型號：
- 更新時間：2024-07-18
- 廠商性質：生產廠家
- 產品品牌：
- 產品廠地：廣州市
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產品介紹
| 產地類別 | 國產 |
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WITec alpha 300S 掃描近場光學顯微鏡
WITec alpha 300S*的懸臂式掃描近場光學顯微鏡
alpha 300S一款操作簡易的掃描近場光學顯微鏡（SNOM），采用*設備的中空懸臂式近場探針實現超越衍射極限的光學分辨率。alpha 300S系統也具備*的兼容性和擴展性，可與共聚焦光學/拉面顯微鏡及原子力顯微鏡集成在同一臺儀器上，僅需旋轉物鏡轉輪即可實現不同模式切換。
WITec alpha 300S 掃描近場光學顯微鏡
WITec alpha 300S是一種純近場光學顯微鏡，在很多樣品上都可獲得*的超高分辨率，并且擁有透射與反射式兩種模式。
該近場光學顯微鏡不同于其他的超分辨顯微鏡，如 STED 和 STORM，后二者往往受限于熒光染料分子的可選種類及特殊的激發光源。 alpha300S 系統采用軟件可控的快速自動進針及調節等自動測試流程，操作非常簡便、直觀。
由于近場光學信號極其微弱，alpha300 S 近場光學顯微鏡配備高靈敏單光子計數的光電倍增管或雪崩二極管，并同時提供檢測器快速超載保護。更重要的是，UHTS 光譜儀可與 alpha300S系統兼容，實現近場光譜與成像測量。
關鍵特性：
突破衍射極限的空間光學分辨率（橫向約 60 nm)
的 SNOM 探針技術
在空氣與液體中均可使用
包含多種原子力與光學顯微鏡模式
非破壞性、無需標記的超高分辨成像技術，基本不需要樣品制備
可升級到關聯的共聚焦拉曼成像和近場拉曼成像
集成三種技術到一臺儀器上：共聚焦顯微鏡, AFM 和 SNOM
技術參數：
1）工作模式：近場顯微鏡，共聚焦顯微鏡，原子力顯微鏡三種工作模式；
2）近場光學顯微鏡分辨率：為50nm
3) 共聚焦拉曼顯微鏡分辨率：200nm
4) 掃描臺掃描范圍：100 x 100 x 20 μm
5）探測器：光電倍增管（PMT）或雪崩二極管（APD）
